【S】
slice thickness artifact
(スライス幅によるアーチファクト)
slice thickness effectともよばれ、ビームの幅によるアーチファクトです。スライスした断層面に垂直の方向にもビームが広がっているため、このビームの広がりの中にある反射体は重って1つの断層像として描出されます。
Snell's law
(スネルの法則)
異なる媒質の境界が超音波(進行波)の波長λと比較したときに幅広く滑らかであれば、波は境界を通過する際に屈折します。このとき、媒質1と媒質2とで、入射角をθ1、屈折角をθ2、媒質2の媒質1に対する屈折率をn、波の伝搬速度を媒質1でc1、媒質2でc2とすると
sinθ2/sinθ1=n=c2/c1
の関係が成り立ちます。これをスネルの法則といいます。
spectrum
(スペクトル)
横軸を周波数、縦軸を振幅で表したパターンをスペクトルと呼びます。
speckle pattern
(スペックルパターン)
超音波の波長に比べて十分小さな生体内の無数の反射体(群反射体)により、散乱波が様々な場所(位相)で生じます。この散乱波のうち“探触子に戻ってくる散乱波(後方散乱波)”が干渉し、ランダムに小輝点群がみられます。まだらな点状の像を呈するので、これを指してスペックル(小斑点)パターンまたはスッペックルノイズ(speckle
noise)とよびます。
switched array method
(スイッチドアレイ法)
配列型探触子(array type probe)の振動子1個あるいは複数個ごとに駆動しながら、順次電子スイッチにより切り換え、超音波ビームを走査する方法です。この方法はリニア電子走査に使用されます。
これに対し、位相または遅延時間を制御することにより超音波ビームを走査する方法はフェーズドアレイ法(phased
array method)とよび、セクタ電子走査に使用されます。
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